
湖南省長(zhǎng)沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室

0731-84284278

0731-84284278

service@hncsw.net
 
 
 0731-84284278
 
 
 
 
 SE500adv 組合式橢偏儀
 名稱:涂鍍層測(cè)厚儀
 品牌:
 型號(hào):
 簡(jiǎn)介:SE500adv 組合式橢偏儀簡(jiǎn)單信息: 高性能、高可靠性,擁有業(yè)內(nèi)最高測(cè)量精度??蓽y(cè)量?jī)蓪幽ず穸龋蛞粚幽ず穸群驼凵渎?。CER模式,可結(jié)合反射式膜厚儀和激光橢偏儀,給出測(cè)量數(shù)據(jù)。選件與SE400選件相同,迄今為止最簡(jiǎn)單易用的橢偏儀 SE ...
	SE500adv 組合式橢偏儀簡(jiǎn)單信息: 高性能、高可靠性,擁有業(yè)內(nèi)最高測(cè)量精度??蓽y(cè)量?jī)蓪幽ず穸?,或一層膜厚度和折射率。CER模式,可結(jié)合反射式膜厚儀和激光橢偏儀,給出測(cè)量數(shù)據(jù)。選件與SE400選件相同, 迄今為止最簡(jiǎn)單易用的橢偏儀
	
	• SE 500adv結(jié)合橢偏測(cè)量和反射測(cè)量
	• 可消除橢偏測(cè)量對(duì)透明膜厚度的周期不確定性
	• 膜厚測(cè)量范圍可擴(kuò)展至25000 nm.
	• 激光波長(zhǎng)632.8 nm
	• 反射計(jì)光譜范圍450 nm-920 nm
	• 光斑直徑80 μm
	• 150 mm (z-tilt)樣品臺(tái)
	• 角度計(jì),可變?nèi)肷浣嵌?,步進(jìn)5°
	• LAN連接電腦
	CER組合橢偏儀SE 500advanced可作為激光橢偏儀,CER組合式橢偏儀或反射膜厚儀FTPadvanced操作。比常規(guī)激光橢偏儀有更好的適應(yīng)性。
	作為橢偏儀操作
	  單角度和多角度測(cè)量,可測(cè)量最多三層膜的厚度和光學(xué)參數(shù),測(cè)量波長(zhǎng)632.8nm,有最高的測(cè)量精度。
	作為反射式膜厚儀FTPadvanced操作
	  白光正入射測(cè)量,可測(cè)量透明膜或弱吸收薄膜,厚度最大可達(dá)25μm。配置更先進(jìn)的軟件FTPexpert后能夠測(cè)量多層膜。
	作為CER組合橢偏儀操作
	  解決了透明膜的周期不確定性問題,并由于確定的膜厚周期,折射率測(cè)量精度顯著增加??蓽y(cè)量透明膜的Cauchy系數(shù)。
	技術(shù)指標(biāo):
	Ψ,Δ精度,90°位置透射測(cè)量:     δ(Ψ)=0.002°, δ(Δ)=0.002°
	 長(zhǎng)時(shí)穩(wěn)定性:                                δ(Ψ)=±0.01°, δ(Δ)=±0.1°
	 膜厚精度:                                    0.1 Å for 100 nm SiO2 on Si
	 折射率精度:                                5×10-4 for 100 nm SiO2 on Si
	 
	精度定義為30次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)差
	長(zhǎng)時(shí)穩(wěn)定性為90°位置時(shí)24小時(shí)內(nèi)測(cè)量的差值
	選項(xiàng)
	• 手動(dòng)x-y樣品臺(tái),行程50 mm
	• Mapping地貌圖掃描 (x-y, 最大200 mm, 真空吸附)
	• 攝像選項(xiàng),用于樣品校準(zhǔn)和表面監(jiān)視
	• 30 μm微細(xì)光斑
	• 第二激光波長(zhǎng)1550
	• 自動(dòng)對(duì)焦
	• SIMULATION軟件
	廠商名稱: SENTHCH
	商品名稱: 組合式橢偏儀
	商品型號(hào): SE500adv
	 
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品