
湖南省長沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號新材料園F9A號樓511室

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 捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀
 名稱:其他儀器與工具
 品牌:
 型號:
 簡介:捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8...


| 檢測元素范圍 | WDS:(Be) /B~U, EDS:B~U | 
| X射線檢測范圍 | 
					WDS檢測的波長范圍:  0.087~9.3nm, EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV  | 
			
| 分光譜儀數(shù)量 | WDS: 1~5道可選、EDS: 1臺 | 
| 最大樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm(H) | 
| 加速電壓 | 0~30kV(以0.1 kV為步長) | 
| 束流電流范圍 | 10-12 ~ 10-5 A | 
| 束流電流穩(wěn)定度 | 5%/h, ±0.3%/12h(W) | 
| 二次電子分辨率 | 
					6nm(W), 5nm(LaB6) (W.D. 11mm, 30kV)  | 
			
| 掃描倍率 | ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm) | 
| 掃描圖像分辨率 | 最大 5,120× 3,840 | 
| 彩色顯示器 | 
					EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024  | 
			
| 光學(xué)顯微鏡 | |
| 分辨率 | ~1um | 
| 焦深 | 1um | 
| 真空系統(tǒng) | 機械泵、分子泵、離子泵 | 
| 真空度 | 
					樣品室:  優(yōu)于8.0 x 10-4Pa, 電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa  | 
			
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